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TS-PM溫控探針冷熱台係列能提供-196~600℃(可拓展RT~1000℃)範圍內樣品控溫環境,允許用戶在樣品溫控的同時進行探針測試,並同時進行氣氛控製和光學觀察。探針與內部電級相連,針座可移動,保證了測量區域,也可以對樣品進行封裝保證測試精度。
TS400-R溫控探針係列專門針對材料電學測試而設計的一款產品,溫度範圍為-196~400℃,全程溫度穩定性控製0.5℃以內,采用四探針法可表征材料升溫和降溫階段電阻率隨溫度變化的特征。
TS400係列冷熱台皆為銀質樣品台和BNC真空電學接頭,管殼式設計方便樣品裝夾,實現歐姆接觸,針對弱電流測量非常具有優勢,腔體提供一個精密的控溫環境,可根據用戶的具體需求進行設計製造以滿足響應需求,廣泛應用於地質、微電子、材料冶金、藥物研發、高分子聚合物、石油天然氣、生命科學、食品研究、航空航天等領域。
TS-PM係列冷熱台皆為銀質樣品台和BNC真空電學接頭,提供一個精密的控溫環境,可根據用戶的具體需求進行設計製造以滿足響應需求,廣泛應用於地質、微電子、材料冶金、藥物研發、高分子聚合物、石油天然氣、生命科學、食品研究、航空航天等領域。